公司新聞|2022-01-20|admin
FCT測(cè)試治具英文全稱為:Functional Circuit Test(即:功用測(cè)試)它指的是對(duì)測(cè)試目的板(UUT:Unit Under Test提供模仿的運(yùn)轉(zhuǎn)環(huán)境(鼓勵(lì)和負(fù)載),使其工作于各種設(shè)計(jì)狀態(tài),從而獲取到各個(gè)狀態(tài)的參數(shù)來(lái)考證UUT的功用好壞的測(cè)試辦法。簡(jiǎn)單地說(shuō),就是對(duì)UUT加載適宜的鼓勵(lì),丈量輸出端響應(yīng)能否符合請(qǐng)求。普通專(zhuān)指PCBA的功用測(cè)試。
功用測(cè)試根據(jù)控制形式的不同,能夠分為手動(dòng)控制功用測(cè)試、半自動(dòng)控制功用測(cè)試、全自動(dòng)控制功用測(cè)試。最早的功用測(cè)試,主要以手動(dòng)和半自動(dòng)方式為主。關(guān)于一些簡(jiǎn)單的被測(cè)板的功用測(cè)試,基于簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)和減少制造本錢(qián)思索,我們有時(shí)還是會(huì)采用手動(dòng)或者半自動(dòng)的測(cè)試計(jì)劃。隨著科技的開(kāi)展,為了節(jié)約消費(fèi)本錢(qián),如今的功用測(cè)試絕大多數(shù)都是運(yùn)用全自動(dòng)的計(jì)劃。
另一種更普遍的分類(lèi)是根據(jù)功用測(cè)試的控制器類(lèi)型來(lái)分。在功用測(cè)試中,我們通常用的控制方式有MCU控制方式、嵌入式CPU控制方式PC控制方式、PLC控制方式等。
在PCBA的批量消費(fèi)過(guò)程中,由于設(shè)備和操作者的各種可能的要素,不可能保證消費(fèi)出來(lái)的PCA全部都是完好品。這就請(qǐng)求在消費(fèi)的末端參加各種的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試工具,以保證出用的一切實(shí)裝電路板與設(shè)計(jì)的各種規(guī)格和參數(shù)完整分歧這就產(chǎn)生了ICT、AOI、 X-Ray、Boundary-Scan、FCT等各種測(cè)試手腕。
題-1.jpg)
題-3.jpg)
